Протокол испытаний макетных образцов фильтров, изготовленных на разных СВЧ материалах

1. Объект испытаний

Объект испытаний – макетные платы с фильтрами, изготовленные на разных материалах.

1. Материал 1 (DK=3.38)

2. Материал 2 (DK=3.38)

3. Материал 3 (DK=3.38)

    Рисунок 1 – Вид испытуемых плат.

2. Цель испытаний

Цель испытаний – оценка характеристик фильтр изготовленного на печатных платах из разного материала (S12, S21, S11, S22).

3. Результаты испытаний

Испытуемые образцы состоят из:

·      Макетной печатной платы

·      Двух разъёмов SOUTHWEST MICROWAVE

Для измерения характеристик макета используется следующее оборудование:

·      Векторный анализатор цепей R&S ZNA40

Перед измерениями характеристик самого макета была проведена калибровка прибора для исключения влияния кабеля при измерениях.

3.1 Результаты измерения макетных плат

Для проведения измерений была собрана установка в соответствии со схемой, представленной на рисунке 1.

Рисунок 1 - Схема измерения характеристик фильтра.

3.2.1 Нормальные условия

1. Измерения характеристик

Условия проведения измерения:

·      Частоты: от 31.5 ГГц до 36.5 ГГц;

Проверяем тестовый (прямой) полосок, на всех трех платах.

Материал 1, Материал 2, Материал 3, Материал 4

Материал 1

Материал 2

Материал 3

Материал 4

Проверяем первый фильтр, на всех трех платах.

Материал 1, Материал 2, Материал 3, Материал 4

Материал 1

Материал 2

Материал 3

Материал 4

Проверяем второй фильтр, на всех трех платах.

Материал 1, Материал 2, Материал 3, Материал 4

Материал 1

Материал 2

Материал 3

Материал 4

4. Выводы

СВЧ- материалы Материал 2, Материал 3 (Taizhou Wangling (WL-CT338 DK=3.38) и Материал 4 имеют практически одинаковые характеристики с Материалом 1 (Rogers RO4003).

По проведенным измерениям видно, что фильтры, изготовленные на Материале 3 (Taizhou Wangling (WL-CT338 DK=3.38) и Материале 4 не требуют пересчета и практически идентичны фильтрам, изготовленным на Материале 1 (Rogers RO4003).

Материал 2 хоть и имеет одинаковые характеристики с RO4003, но по тестам изготовленных образцов видно, что требуется корректировка топологии платы.

Москва, 2022