Внутрисхемное тестирование

Здравствуйте.  
Разрабатывается восьмислойная плата. Встал вопрос о электроконтроле (внутрисхемное, функциональное тестирование). Не подскажите ли какую-либо литературу или какие-то свои советы на эту тему?
Интересует какими принципами руководствоваться при выборе:
- размеров тестовых площадок;
- их расположения на плате:
- расстояние между площадками (возможно следует придерживаться какой-то сетки?);
- если использовать в качестве тестовых точек переходные отверстия, нет ли каких-то особых требований?